ACCULOGIC公司建立在美國，ACCULOGIC的測(cè)試儀有著優(yōu)良的品質(zhì)。ACCULOGIC的旗艦產(chǎn)品，在FLS900和SPRINT 4510飛行探針測(cè)試儀，ICT7000在電路測(cè)試儀和ScanNavigator邊界掃描測(cè)試套件，幫助確保明天的技術(shù)，也沒有超過今天的測(cè)試能力。這些產(chǎn)品是**先進(jìn)的，可擴(kuò)展的解決方案，解決了廣泛的測(cè)試挑戰(zhàn)，給客戶滿意的產(chǎn)品。
 
Acculogic公司設(shè)計(jì)，制造和銷售范圍廣泛的系統(tǒng)和儀器，用于測(cè)試電子器件，電路板和系統(tǒng)。Acculogic提供短期周轉(zhuǎn)時(shí)間，高故障覆蓋率，快速循環(huán)時(shí)間的解決方案。 Acculogic的服務(wù)和產(chǎn)品是用來驗(yàn)證設(shè)計(jì)，確保原型的完整性，改進(jìn)生產(chǎn)工藝和產(chǎn)量，并提供無缺陷的*終產(chǎn)品。 ABAKUS分析儀
 
  ACCULOGIC公司提供廣泛的制造測(cè)試應(yīng)用，包括汽車和軍用航空的商業(yè)功能測(cè)試系統(tǒng)。我們的解決方案是專為生產(chǎn)測(cè)試，優(yōu)化吞吐量，可靠性，可重復(fù)性和成本。功能測(cè)試系統(tǒng)配備了一個(gè)可擴(kuò)展的架構(gòu)和設(shè)計(jì)，以滿足各種各樣的要求，如：高速模擬和數(shù)字功能測(cè)試·VXI，PXI和GPIB儀器；高速數(shù)字測(cè)試模式生成，采集，和分析； LabVIEW的LabWindows CVI，Visual C / C + +等；（IEEE1149.1 JTAG）邊界掃描測(cè)試整合；底板上的Flash和其它非易失性器件編程；在系統(tǒng)編程（ISP）的PLD，CPLD等**的交鑰匙夾具設(shè)計(jì)與集成服務(wù)。

主要產(chǎn)品：美國ACCULOGIC分析儀，ACCULOGIC測(cè)試儀，ACCULOGIC功能測(cè)試儀，ACCULOGIC編程器，ACCULOGIC掃描儀

 
FLS900™系列飛針測(cè)試儀，ICT7000™內(nèi)電路測(cè)試儀和ScanNavigator™邊界掃描測(cè)試套件，有助于確保未來的技術(shù)不超越今天的測(cè)試能力。 這些產(chǎn)品是高度發(fā)達(dá)，用來解決范圍廣泛的測(cè)試挑戰(zhàn)可擴(kuò)展的解決方案。
Acculogic公司的系統(tǒng)是由以適應(yīng)各種應(yīng)用和客戶。 在我們的高性能測(cè)試系統(tǒng)的核心奠定抵制下一代的測(cè)試挑戰(zhàn)所需的技術(shù)。嚴(yán)格的質(zhì)量控制措施，產(chǎn)品上市時(shí)間的壓力一起令人信服制造企業(yè)選擇在其生產(chǎn)過程有效而精益測(cè)試和質(zhì)量保證策略。 飛針測(cè)試不需要測(cè)試夾具，對(duì)板連接數(shù)限制，可與幾乎無限數(shù)量的網(wǎng)絡(luò)測(cè)試板。 它們還允許開發(fā)人員來完成測(cè)試程序在很短的時(shí)間。 由于這些原因多，飛針測(cè)試儀已成為當(dāng)今電子制造業(yè)不可缺少的工具。新的和創(chuàng)新的設(shè)計(jì)特點(diǎn)應(yīng)用到提高測(cè)試速度，板通道，可靠性和可重復(fù)性，已開辟了部署Acculogic公司的FLS900系列測(cè)試儀的新的可能性。 作為**個(gè)獲得**的飛針測(cè)試用雙面測(cè)試和22可互換探頭模塊，F(xiàn)LS980Dxi是一路**在定義新的更精簡(jiǎn)，更**的部署模型用于生產(chǎn)環(huán)境。
 
主要特點(diǎn)：
全功能雙面系統(tǒng)
閉環(huán)的AccuFast™驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)，具有±0.1微米分辨率
可配置*多至22閉環(huán)飛針
可編程探頭角度6度到-6度度
豐富的電氣測(cè)試功能，包括模擬，數(shù)字，混合信號(hào)和邊界掃描以及先進(jìn)的光學(xué)和熱學(xué)檢查
上電和快進(jìn)功能測(cè)試（*高到GHz范圍內(nèi)）
截至到128非復(fù)用的測(cè)試通道，通過固定的釘子
潛伏開路檢測(cè)
逆向工程
支持大板向上至41“×25.5”（1050 x640毫米）